> 標準動態(tài)

液體式冷熱沖擊箱做冷熱沖擊測試的標準有哪些？

    1. GB/T2423.1-2001低溫試驗方法；

    2. GB/T2423.2-2001；

    3. GB/T2423.22-1989溫度變化試驗N；

    4. GJB150.3-86；

    5. GJB150.4-86；

    6. GJB150.5-86；

    7. GJB150.5-86溫度沖擊試驗；

    8. GJB360.7-87溫度沖擊試驗；

    9. GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗；

    10. SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗箱——二箱式；

    11. 滿足標準IEC68-2-14_試驗方法N_溫度變化；

    12. GB/T 2424.13-2002試驗方法溫度變化試驗導則；

    13. GB/T 2423.22-2002溫度變化；

    14. QC/T17-92汽車零部件耐候性試驗一般規(guī)則；

    15. EIA 364-32熱沖擊（溫度循環(huán)）測試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評估。

    以上未提到的，關于冷熱沖擊測試中，引起溫度變化及溫度變化的現(xiàn)場條件在“GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗 第2部分 試驗N:溫度變化”中有提到：

    溫度變化的現(xiàn)場條件

    電子設備和元器件中發(fā)生溫度變化的情況很普遍。當設備未通電時，其內(nèi)部零件要比其外表面上的零件經(jīng)受的溫度變化慢。

下列情況下，可預見快速的溫度變化：

    ——當設備從溫暖的室內(nèi)環(huán)境轉移到寒冷的戶外環(huán)境，或相反情況時；

    ——當設備遇到淋雨或浸入冷水中而突然冷卻時；

    ——安裝于外部的機載設備中；

    ——在某些運輸和貯存條件下。

    通電后設備中會產(chǎn)生高的溫度梯度，由于溫度變化，元器件會經(jīng)受應力，例如，在大功率的電阻器旁邊，輻射會引起鄰近元器件表面溫度升高，而其他部分仍然是冷的。

    當冷卻系統(tǒng)通電時，人工冷卻的元器件會經(jīng)受快速的溫度變化。在設備的制造過程中同樣可引起元器件的快速溫度變化。溫度變化的次數(shù)和幅度以及時間間隔都是很重要的。

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